| 测量精度 | 分 辨 率：0.1μm |
|---|---|
| 测量范围 | 0～2mm；0～6mm；12mm（可选） |
| 电源电压 | 220V |
| 类型 | 薄膜测厚仪 |
| 外形尺寸 | 461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) |
| 显示方式 | 数显 |
| 品牌 | Labthink兰光 |
| 型号 | CHY-CA |
| 加工定制 | 是 |
| 测定对象 | 硅片 |
济南兰光CHY-CA型测厚仪，可专业用于硅片、太阳能电池片等片材的厚度检测试验。
硅片测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的**厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
硅片测厚仪技术参数：
1. 测量范围：0～2mm；0～6mm；12mm（可选）
2. 分 辨 率：0.1μm
3. 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
4. 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
5. 进样步距：0～1000mm
6. 进样速度：0.1～99.9mm/s
硅片测厚仪标准配置：主机、标准量块一件（选购：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码）
详情请致电：济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.cn查询
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